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序號
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項 目
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要 求
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說 明
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1
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整相繞組(或分支)及單根線棒的tgδ增量(Δtgδ) |
①整相繞組(或分支)的Δtgδ值不大于下列值：
②定子電壓為6kV和10kV的單根線棒在兩個不同電壓下的Δtgδ(%)值不大于下列值：
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①在絕緣不受潮的狀態(tài)下進行試驗 ②槽外測量單根線棒tgδ時，線棒兩端應加屏蔽環(huán) ③可在環(huán)境溫度下試驗 |
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2
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整相繞組(或分支)及單根線棒的第二電流增加率ΔI(%) |
①整相繞組(或分支)Pi2在額定電壓Un以內(nèi)明顯出現(xiàn)者(電流增加傾向倍數(shù)m2＞1.6)，屬于有老化特征。絕緣良好者，Pi2不出現(xiàn)或在Un以上不明顯出現(xiàn) ②單根線棒實測或由Pi2預測的平均擊穿電壓，不小于(2.5～3)Un ③整相繞組電流增加率不大于下列值：
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①在絕緣不受潮的狀態(tài)下進行試驗 ②按下圖作出電流電壓特性曲線 
ΔI＝(I－I0)／I0×100% 式中 I—在Un下的實際電容電流； I0—在Un下I＝f(U)曲線中按線性關(guān)系求得的電容電流 ④電流增加傾向倍數(shù) m2＝tgθ2／tgθ0 式中 tgθ2—I＝f(U)特性曲線出現(xiàn)Pi2點之斜率； tgθ0—I＝f(U)特性曲線中出現(xiàn)Pi1點以下之斜率 |
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3
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整相繞組(或分支)及單根線棒之局部放電量 |
①整相繞組(或分支)之局部放電量不大于下列值：
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4
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整相繞組(或分支)交、直流耐壓試驗 | 應符合表1中序號3、4有關(guān)規(guī)定 | |||||||||||||
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注：1.進行絕緣老化鑒定時，應對發(fā)電機的過負荷及超溫運行時間、歷次事故原因及處理情況、歷次檢修中發(fā)現(xiàn)的問題以及試驗情況進行綜合分析，對絕緣運行狀況作出評定。 2.當發(fā)電機定子繞組絕緣老化程度達到如下各項狀況時，應考慮處理或更換絕緣，其采用方式包括局部絕緣處理、局部絕緣更換及全部線棒更換。 (a)累計運行時間超過30年(對于瀝青云母和烘卷云母絕緣為20年)，制造工藝不良者，可以適當提前； (b)運行中或預防性試驗中，多次發(fā)生絕緣擊穿事故； (c)外觀和解剖檢查時，發(fā)現(xiàn)絕緣嚴重分層發(fā)空、固化不良、失去整體性、局部放電嚴重及股間絕緣破壞等老化現(xiàn)象； (d)鑒定試驗結(jié)果與歷次試驗結(jié)果相比，出現(xiàn)異常并超出表中規(guī)定。 3.鑒定試驗時，應首先做整相繞組絕緣試驗，一般可在停機后熱狀態(tài)下進行，若運行或試驗中出現(xiàn)絕緣擊穿，同時整相繞組試驗不合格者，應做單根線棒的抽樣試驗，抽樣部位以上層線棒為主，并考慮不同電位下運行的線棒，抽樣量不作規(guī)定。 |
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